关于求特征的几种做法

关于求特征的几种做法;原题链接
https://www.icax.org/thread-292948-1-1.html
我觉得新特征替换错误特征满足下面条件就很充分了.

1.新建的扫描面与错误的扫描重合,这是基本的要求.

2.新的扫描面与错误面没有父子关系,换句话说它是独立的,删去错误特征,它不受影响.

我来说说我的几种做法
一.最简捷的方法.展平面组法.这是我的第一感.非常简单的.

1.建点将面展平
2.展平面上草绘轮廓线,线的外线利用边,在起点建一草绘坐标系.
3.将草绘另存为一个图形x
4.插入基准图形,进入草绘, 插入保存图形,比例选1:1
5扫描,关系式选用evalgraph("a",trajpar*361.8).扫描参数的系数就是基准图形X长度,自然高度就y座标

接下来的几图形

这种方法能保证新的扫描面与错误的扫描面重合,就如比展平了折回去.但是楼主认为不对.不知为什么.

二.辅助线法.
思想是将原图的边投影到一基准平面,这个基准平面扫描固定法向的垂直平面.扫描时将纵坐标对齐

1.在基面上草绘,利用曲面的边,然后删除边的参照.确认.
2.扫描,原始轨迹选原绘线,另一轨迹线选用新的草绘线.方式选用恒定法线.选right面.
3.扫描,高度平齐即可.

[ 本帖最后由 zhangax88 于 2008-3-15 23:20 编辑 ]

附加图\\\\\\\\\\\\

附加图\\\\\\\\\\\\

[ 本帖最后由 zhangax88 于 2008-3-15 23:31 编辑 ]

这种方法没有用基准图形,但是多画了一条线.特征并没有增加.